多模光纤插入损耗测试的问题

多模光纤插入损耗的测试在很大程度上取决于测试光源的发射条件。不同的光源会产生不同的发射条件。例如，一个LED光源将以“过满注入(Over fill)”的方式将光注入到光纤内，而一个激光器光源（如VCSEL）将以“欠注入(Under fill)”的方式将光注入到光纤内，如图1所示。使用不同发射条件的光源进行多模光纤的插入损耗测试时，由于光源的注入方式不同，将给测试结果带来差异。

        (a)过满注入                                                      (b)欠注入

                                           图1 光源发射条件

当采用LED光源进行测试时，由于光源的发散角大，光源以“过满注入”的方式将多种模式的光注入到光纤内。稳定的低阶模在靠近纤芯中心传输，而不稳定的高阶模在远离纤芯中心甚至在包层中传输。不稳定的高阶模在光纤中传输一段距离后将会消失，因此插入损耗测试结果将比实际值偏大。

当采用VCSEL光源进行测试时，由于光源的发散角小，光源以“欠注入”的方式将少量模式的光注入到光纤内。由于光源发射的高阶模数量太少，而且某些故障（例如连接器插头对接时的纤芯错位）无法被检测到，因此插入损耗测试结果将比实际值偏小。在“过满注入”和“欠注入”的发射条件下测试得到的插入损耗结果偏差很可能会高达50%以上。